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万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪

适用范围:
快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等,面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据(包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等;面粉的麸星、砂石的大小和含量)
产品介绍:

万深SC-X型小麦外观品质分析、面粉麸星检测仪

小麦品质自动4分类分析结果标记图

面粉麸星砂石分类检测结果标记图

1.用途:快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等,面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据(包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等;面粉的麸星、砂石的大小和含量)。小麦品质检测方法符合GB5504-85《粮食、油料检验小麦加工精度检验法》、GB/T 27628-2011《粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。

2.仪器特点:仪器由光学成像系统、智能分析软件、220g量程1mg精度电子天平组成。系统具有卓越的自学习能力,实现人性化的一键式智能分析,并可交互修正个别的分类错误点,以达到100%正确分类结果。该分析系统能大批量处理,自动分析300个以上小麦和面粉样品的图像。由专业软件分析成像后的彩色图像,准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度(即:可按面积自动排序及输出)、籽粒颜色、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等指标,以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况,并交互修正;当面粉指标偏离设定参数时,可报警显示;用户可随意查询检测结果,并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。样品数据准确可靠,结果稳定、重复性高。

3.主要性能指标*

l  最大分析面积:小麦为A4纸幅面;面粉为35mm×35mm

l  测量时间:小麦≤2分钟/样品;面粉≤1分钟/样品视野。

l  小麦千粒重测量误差≤±0.5%

l  外观品质两次扫描单面分析的重复性误差≤±2.0%

l  可接入条码枪来自动刷入样品编号,分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表,分析图像标记结果可保存。

4.仪器规格配置:

  带RS232线电子天平(220g量程、1mg精度)1台,LED光源、最高光学分辩率4800×9600dpi彩色扫描仪1台,单筒体视显微镜+300万像素相机1套、微型手动移动平台1套,小麦外观品质分析、面粉麸星检测软件光盘1张(含电子版操作手册)、软件锁1只,籽粒收纳盘1个,紧粉用面粉成像小盘1付。(电脑需另配)

   仪器总尺寸、总重量:宽×深×高约50cm×40cm×12cm,~13kg

5.环境条件:

       温度10~30℃,相对湿度≤85%,防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上,周围无强烈的机械振动和电磁干扰;电源要求220V±10%50Hz


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